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產(chǎn)品簡介
介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀 型號:HAD-ZJDB是我公司新代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計算機作為儀器的控制、測量核心，真正實現(xiàn)了的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在個液晶屏上展示出來
產(chǎn)品分類
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介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀 型號:HAD-ZJDB
、概述
HAD-ZJDB型是我公司新代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計算機作為儀器的控制、測量核心，真正實現(xiàn)了的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在個液晶屏上展示出來。在你操作時，再也不用去注意量程和換算單位。在何頻率下，只要能找到諧振點，都能直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感的測量范圍，而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。采用DDS數(shù)字直接合成方式的內(nèi)信號源，具有信號失真小，頻率、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點，更保證了測量度的性。另外還采用了標準頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程手動或自動轉(zhuǎn)換，自動穩(wěn)幅等新，改了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低，使得新表在使用時更為方便，測量值更為。
介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀能在較的測試頻率條件下，測量頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電材料的頻介質(zhì)損耗，頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、廠等單位。
二、作性
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
項 目 HAD-ZJDB
頻率范圍 20kHz～10MHz；
固有誤差 ≤5％±滿度值的2％；
作誤差 ≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍 10MHz～60MHz；
固有誤差 ≤6％±滿度值的2％；
作誤差 ≤8％±滿度值的2％。
2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
3．電容測量：1~ 460
項 目 HAD-ZJDB
直接測量范圍 1～460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準確度 30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
4．信號源頻率覆蓋范圍
項 目 HAD-ZJDB
頻率范圍 10kHz～50MHz
頻率分段
（虛擬） 10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
頻率示誤差 3×10-5±1個字
5．Q合格示預(yù)置能
預(yù)置范圍：5～1000。
6．正常作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
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