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元件測試儀是內(nèi)臺符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新代阻抗測試儀器

更新時間:2018-10-17點擊次數(shù):512

簡要介紹
■元件測試儀是內(nèi)臺符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新代阻抗測試儀器,其0.1%的基本度、20Hz~5MHz
的頻率范圍可以滿足元件與材料大分低壓參數(shù)的測量要求,可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻堋⒆儔浩鞯刃兄T多電氣性能的分析及低ESR電容器和Q電感器的測量。
■產(chǎn)品速的測試速度使其別適用于自動線的點檢機,壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。
■產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
廣泛的測量對象
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻艿腃-VDC性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估
半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V性
液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V性

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